四探针方块电阻测试系统
产品概要
设备简单，操作方便，精确度高，对样品的几何尺寸无严格要求。除了用四探针法测量材料电阻率以外，在器件生产中广泛使用四探针法来测量扩散层薄层电阻以判断扩散层质量是否符合设计要求。
基本信息
| 产品型号 | 全自动方块电阻量测机台 SR系列 | 工作环境 | 常高温，屏蔽 |
| 电力需求 | / | 操控方式 | 全自动 |
| 产品尺寸 | 可定制 | 设备重量 | 可定制 |
应用方向
半导体材料、太阳能电池材料（硅、多晶硅、碳化硅等）、新材料、功能材料（碳纳米管、DLC、石墨烯、银纳米线等）、导电薄膜（金属、ITO等）、硅相关薄膜(LTPS等）、扩散层测试、其他（*详情请与我们联系）
