我们的网站使用由我们和第三方提供的 cookies。部分cookies是网站运营所必需的,而其他 cookies您可以随时调整,特别是那些有助于我们了解网站性能、为您提供社交媒体功能、通过相关内容为您带来更好的体验和广告宣传的cookies...。

我接受

测试技术

一种低温探针测试设备

一种低温探针测试设备

一种低温探针测试设备

技术背景


面临挑战




技术概要

专利类型:发明专利
专利号:2023104358611

Special ConditionsTM技术,通过设置真空腔、防辐射屏等结构,有效的营造一个集成高温、低温、真空等测试环境,为生产出来的半导体器件提供稳定的测试环境,通过观察孔可视化调节真空仓的真空状态及腔体温度提高检测结果的精确程度。


技术说明


© 2023 深圳市森美协尔科技有限公司 All Rights Reserved.粤ICP备19119103号