为期三天的第二十五届中国国际光电博览会，已于9月13日，在深圳宝安国际会展中心圆满落幕。森美协尔携先进晶圆测试方案闪耀亮相，吸引了众多业界同仁与客户的关注和支持。本次参展，我们展示的明星产品有：A系列全自动探针台、X系列半自动探针台、H系列手动探针台。（点击下方视频观看详情内容）
SEMISHARE A系列是一款高精度的全自动晶圆探针台，综合扎针精度可达±2μm。主要用于量产型WAT测试和CP测试，广泛应用于存储器、SOC、数字电路、模拟电路、功率器件、射频器件以及分立器件等多种晶圆测试。
我们也支持特殊定制，像在板级封装、frame晶圆测试、双port测试、电动针座测试、四线法测试等特殊应用方面，我们都有成熟的成功案例。
《森美协尔光博会访谈》X系列半自动探针台、H系列手动探针台（下集）
X系列是一款集成电学、光波、微波等测试功能的半自动晶圆探针台，移动精度可达±1μm，可提供多种测试环境，兼具灵活性和操作便利性，特别适合于实验室和中小型生产环境。支持多种应用测试，如直流参数测试、大功率器件测试，射频测试，光电测试，失效分析测试，1/f噪声测试，硅光测试、WLR可靠性测试、VCSEL测试、蓝膜测试等。
针对科研型的客户，H系列手动晶圆探针台具有优异的机械性能和的测试功能，其卡盘移动技术，可满足客户对整片晶圆高效测试的需求，无牙螺母驱动移动平台，可高速定位并兼容精确微调,精度可至 1μm。
针对其它复杂应用环境，如高低温，电磁干扰，超导材料测试等，我们有高低温探针台、真空高低温探针台等丰富的多样化产品，欢迎大家与我们交流探讨！
圆满举行，征途再续！
在此，我们衷心感谢每一位莅临展位的客户与合作伙伴，感谢您对森美协尔的信任与支持！您的每一次交流、每一声认可，都是我们不断前行的动力。
未来，森美协尔将继续秉持创新精神，以高精度、高效率、高稳定的先进晶圆探针台整体测试方案，助力行业发展，降低制造成本。我们的征途永不止步，期待在未来与您携手同行，共同见证更多精彩瞬间！
