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晶圆测试包括：I-V、C-V、光信号、RF、1/f噪声等特性分析、射频测试等
设备专业应对12"、8"、6"的晶圆Si/GaN/SiC等各类器件的先进芯片性能测试，具有目前行业最高的温宽区和测试精度,可匹配多种测试应用环境.
优异的机械系统，结构性能稳定，人体工程学式设计，操作更便捷，同时支持多功能升级，产品功能更丰富。该产品主要应用于集成电路，LED，LCD，太阳能电池等行业的制造以及研究领域。
各种半导体材料高精度测量的软件集成系统
TFT-LCD面板亮点的修复，OLED面板亮点的修复
TFT-LCD和OLED Array Panel线路开路和短路的修复，Mask的缺陷修复
OLED/LCD 20寸、55寸、70寸以内面板的亮点及异常修复
提供4种不同精度的亚微米级探针座供客户选择(0.1um/0.7um/2 um/10um)
固定在针座上面连接探针和信号线缆的机械装置，用于固定探针和引出信号。探针夹具会随着针座的 X-Y-Z旋钮调节而 在X-Y-Z方向线性运动。
多种GGB探针选择，T-4系列软针较多的应用于点测集成电路的线路，电极，或者FIB(聚焦离子束) 制作的mini电极。ST 系列硬针探针应用与绝大多数的芯片电极点测和线路点测。
提供4种不同精度的亚微米级探针座供客户选择(0.1um/0.7um/2 um/10um)
固定在针座上面连接探针和信号线缆的机械装置，用于固定探针和引出信号。探针夹具会随着针座的 X-Y-Z旋钮调节而 在X-Y-Z方向线性运动。
多种GGB探针选择，T-4系列软针较多的应用于点测集成电路的线路，电极，或者FIB(聚焦离子束) 制作的mini电极。ST 系列硬针探针应用与绝大多数的芯片电极点测和线路点测。
提供4种不同精度的亚微米级探针座供客户选择(0.1um/0.7um/2 um/10um)
固定在针座上面连接探针和信号线缆的机械装置，用于固定探针和引出信号。探针夹具会随着针座的 X-Y-Z旋钮调节而 在X-Y-Z方向线性运动。
多种GGB探针选择，T-4系列软针较多的应用于点测集成电路的线路，电极，或者FIB(聚焦离子束) 制作的mini电极。ST 系列硬针探针应用与绝大多数的芯片电极点测和线路点测。
提供4种不同精度的亚微米级探针座供客户选择(0.1um/0.7um/2 um/10um)
固定在针座上面连接探针和信号线缆的机械装置，用于固定探针和引出信号。探针夹具会随着针座的 X-Y-Z旋钮调节而 在X-Y-Z方向线性运动。
多种GGB探针选择，T-4系列软针较多的应用于点测集成电路的线路，电极，或者FIB(聚焦离子束) 制作的mini电极。ST 系列硬针探针应用与绝大多数的芯片电极点测和线路点测。
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