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晶圆测试包括:I-V、C-V、光信号、RF、1/f噪声等特性分析、射频测试等
专业应对各类先进芯片性能测试的综合型高效半自动晶圆探针台,集成了电学、光波、微波等多功能,在-60℃~300℃宽温度范围内提供可靠性晶圆测试…
优异的机械系统,结构性能稳定,人体工程学式设计,操作更便捷,同时支持多功能升级,产品功能更丰富。该产品主要应用于集成电路,LED,LCD,太阳能电池等行业的制造以及研究领域。
各种半导体材料高精度测量的软件集成系统
TFT-LCD面板亮点的修复,OLED面板亮点的修复
TFT-LCD和OLED Array Panel线路开路和短路的修复,Mask的缺陷修复
OLED/LCD 20寸、55寸、70寸以内面板的亮点及异常修复
提供4种不同精度的亚微米级探针座供客户选择(0.1um/0.7um/2 um/10um)
固定在针座上面连接探针和信号线缆的机械装置,用于固定探针和引出信号。探针夹具会随着针座的 X-Y-Z旋钮调节而 在X-Y-Z方向线性运动。
多种GGB探针选择,T-4系列软针较多的应用于点测集成电路的线路,电极,或者FIB(聚焦离子束) 制作的mini电极。ST 系列硬针探针应用与绝大多数的芯片电极点测和线路点测。
提供4种不同精度的亚微米级探针座供客户选择(0.1um/0.7um/2 um/10um)
固定在针座上面连接探针和信号线缆的机械装置,用于固定探针和引出信号。探针夹具会随着针座的 X-Y-Z旋钮调节而 在X-Y-Z方向线性运动。
多种GGB探针选择,T-4系列软针较多的应用于点测集成电路的线路,电极,或者FIB(聚焦离子束) 制作的mini电极。ST 系列硬针探针应用与绝大多数的芯片电极点测和线路点测。
提供4种不同精度的亚微米级探针座供客户选择(0.1um/0.7um/2 um/10um)
固定在针座上面连接探针和信号线缆的机械装置,用于固定探针和引出信号。探针夹具会随着针座的 X-Y-Z旋钮调节而 在X-Y-Z方向线性运动。
多种GGB探针选择,T-4系列软针较多的应用于点测集成电路的线路,电极,或者FIB(聚焦离子束) 制作的mini电极。ST 系列硬针探针应用与绝大多数的芯片电极点测和线路点测。
提供4种不同精度的亚微米级探针座供客户选择(0.1um/0.7um/2 um/10um)
固定在针座上面连接探针和信号线缆的机械装置,用于固定探针和引出信号。探针夹具会随着针座的 X-Y-Z旋钮调节而 在X-Y-Z方向线性运动。
多种GGB探针选择,T-4系列软针较多的应用于点测集成电路的线路,电极,或者FIB(聚焦离子束) 制作的mini电极。ST 系列硬针探针应用与绝大多数的芯片电极点测和线路点测。