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专业应对各类先进芯片性能测试的综合型高效半自动晶圆探针台，集成了电学、光波、微波等多功能，在-60℃~300℃宽温度范围内提供可靠性晶圆测试…
H12综合型手动探针台具有优异的稳定性和可操作性，且测试精度均高于业内其它品牌，独有的气控式卡盘移动技术、灵活的UPStart模块化结构设计
广泛应用于I-V／C-V测试，RF/mmW测试，高功率、大电流测试，MEMS、光电器件测试，晶圆级失效分析、霍尔测试等
各种半导体材料高精度测量的软件集成系统
TFT-LCD面板亮点的修复，OLED面板亮点的修复
TFT-LCD和OLED Array Panel线路开路和短路的修复，Mask的缺陷修复
OLED/LCD 20寸、55寸、70寸以内面板的亮点及异常修复
提供4种不同精度的亚微米级探针座供客户选择(0.1um/0.7um/2 um/10um)
固定在针座上面连接探针和信号线缆的机械装置，用于固定探针和引出信号。探针夹具会随着针座的 X-Y-Z旋钮调节而 在X-Y-Z方向线性运动。
多种GGB探针选择，T-4系列软针较多的应用于点测集成电路的线路，电极，或者FIB(聚焦离子束) 制作的mini电极。ST 系列硬针探针应用与绝大多数的芯片电极点测和线路点测。
提供4种不同精度的亚微米级探针座供客户选择(0.1um/0.7um/2 um/10um)
固定在针座上面连接探针和信号线缆的机械装置，用于固定探针和引出信号。探针夹具会随着针座的 X-Y-Z旋钮调节而 在X-Y-Z方向线性运动。
多种GGB探针选择，T-4系列软针较多的应用于点测集成电路的线路，电极，或者FIB(聚焦离子束) 制作的mini电极。ST 系列硬针探针应用与绝大多数的芯片电极点测和线路点测。
提供4种不同精度的亚微米级探针座供客户选择(0.1um/0.7um/2 um/10um)
固定在针座上面连接探针和信号线缆的机械装置，用于固定探针和引出信号。探针夹具会随着针座的 X-Y-Z旋钮调节而 在X-Y-Z方向线性运动。
多种GGB探针选择，T-4系列软针较多的应用于点测集成电路的线路，电极，或者FIB(聚焦离子束) 制作的mini电极。ST 系列硬针探针应用与绝大多数的芯片电极点测和线路点测。
提供4种不同精度的亚微米级探针座供客户选择(0.1um/0.7um/2 um/10um)
固定在针座上面连接探针和信号线缆的机械装置，用于固定探针和引出信号。探针夹具会随着针座的 X-Y-Z旋钮调节而 在X-Y-Z方向线性运动。
多种GGB探针选择，T-4系列软针较多的应用于点测集成电路的线路，电极，或者FIB(聚焦离子束) 制作的mini电极。ST 系列硬针探针应用与绝大多数的芯片电极点测和线路点测。
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