我们将客户创新性的理念转化为现实成果，实现精准可靠的测试与测量分析，帮助其精准测量和分析判断晶圆器件的性能，包括提供材料/器件的IV/CV特性测试、LD/LED/PD的光强/波长测试，射频特性器件失效分析，芯片内部线路/电极/PAD测试等技术解决方案。

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  集成电路方向

  Integrated circuit (IC) direction

  ● 晶圆电性测试

  ● 芯片线路修改

  ● 失效分析

  ● 芯片反向拍照
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  印刷线路版方向

  PCB direction

  ● PCB印刷线路板电性测试
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  掩膜版方向

  Maskdirection

  ● 掩膜版缺陷修复
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  LED方向

  LED direction

  ● 电池片光电效率测试

  ● EL测试

  ● 电性测试
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  光伏太阳能方向

  Photovoltaic (PV) solar direction

  ● 太阳能电池片划片/划线
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  平面显示方向

  FPD direction

  ● LCD，OLED亮点/线路修复

  ● 面板探针测试
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  触摸屏方向

  Touch Panel direction

  ● 触摸屏ITO短路激光修复

  ● 激光刻蚀

我们帮助客户更好的优化其测试流程，以之不断赢得客户信任，通过多年与合作伙伴的经验累积，我们已将诸多的技术经验转化为实际的市场成功案例，并逐步形成了更加专业的测试测量解决方案。

• 探针台解决方案

  > 大功率器件测试
  > 光电测试
  > IV/CV 直流测试
  > RF射频测试
  > 晶圆高低温测试
  > 真空高低温测试

• 激光修复机解决方案

  > TFT-LCD 液晶面板亮点修复方案
  > OLED面板亮点修复方案
  > LCD面板阵列修复方案
  > OLED面板阵列修复方案