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    • 2020-10-19晶圆测试探针台的全球市场状况

      半导体探测系统是一种完善的专用工具,用以检测硅晶片,裸片和敞开式微处理芯片上的电源电路和元器件。探针台容许客户将电探头,电子光学探头或RF探头置放在硅晶片上,进而能够检测。这种检测能够非常简单,比如持续性或防护查验,还可以很繁杂,包含微电路的详细系统测试。能够在将晶圆割成单独芯管以前或以后开展检测。在晶圆等级的检...

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    • 2020-09-13解析晶圆测试探针台之结构部件组成介绍

      晶圆测试探针台的主要组成部分包含了探针台主体、光学显微系统、探针系统(探针座、探针和探针夹具、线缆)、样品台、屏蔽系统、防震系统等。

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    • 2020-08-27芯片失效分析方法及分析步骤

      除开常见手段以外也有别的一些失效分析手段,原子力显微镜AFM ,二次正离子质谱分析 SIMS,航空時间质谱分析TOF - SIMS ,透射电镜TEM , 场发送电镜,场发送扫描仪俄歇电极, X 光电子能谱XPS ,L-I-V检测系统软件,动能损害 X 光微区分析系统软件等许多手段,但是这种新项目并不是很常见。

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    • 2020-08-27失之毫厘,谬以千里,SCG 高低温真空探针台助力芯片科技未来

      芯片作为智能载体激活了海量的市场需求,伴随着芯片尺寸及线条的缩小,对测试设备的要求也变得越来越高,差之毫厘,则谬之千里,半导体材料器件的测试也变得越发重要。

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