C系列高低温探针台
产品概要
C系列高低温探针台具有优异的机械系统，结构性能稳定，人体工程学设计，操作便捷，支持多功能升级，功能丰富全面。该产品主要应用于集成电路，LED，LCD，太阳能电池，半导体行业的制造和研究领域。
基本信息
| 产品型号 | C6/C8/C12 | 工作环境 | 高低温环境 |
| 电力需求 | 220VC,50~60Hz | 操控方式 | 手动 |
| 产品尺寸 | 长宽高：1400mm*920mm*920mm | 设备重量 | 150KG/170KG/250KG |
应用方向
高低温环境下，LD/LED/PD测试，PCB/封装器件测试，材料/器件的IV/CV特性测试、0.2微米以上芯片内部线路/电极/PAD测试、高频、射频测试等
技术特点
产品特点
> 创新的气动式卡盘XY移动平台 满足客户对整块晶圆的测试需要；提供3种快速移动方式 >三段式升降针座平台 针座平台具有用于晶圆接触，分离（300μm）和装载的三段升降功能，带有安全锁装置，可防止探头或晶圆意外损坏的同时，确保精准的接触定位 >先进的3ZOOM™成像技术 在图像中能观察到3种倍率的成像效果，无需进行倍率和镜头切换 >密闭腔结构设计 屏蔽外部电信干扰，提供更低噪声和漏电流环境，同时保持氮或正压环境下样品低温无结霜，独特的腔体吹气结构，防止低温结霜现象
