规格/尺寸
SS-700e-m
电动探针座
规格：XYZ行程15mm；移动分辨率0.1μm；重复定位精度±1μm；最大移动速度10mm/s。
尺寸：146长x125宽×140高mm；重量：1.97kg
特点：
●可手动快速调节位置；
●兼容各种手动探针夹具；
●方便拓展，最多支持4个电动针座同时使用。
SS-125-m
亚微米电路/射频测试探针座
规格：X-Y-Z方向行程；14 x 14 x 14mm；线性移动；丝杠精度：125 Thread / Inch；移动精度：＜1 微米
尺寸：110mm长×60mm宽×100mm高，1kg左右
特点：
●轴移方式由微分头顶升变为螺杆传动，避免了碰撞后窜动。
●牙距更短，调节精度更高。
●手柄大小各不相同，操作过程更易区分。
SS-100
亚微米电路/射频测试探针座
规格：X-Y-Z方向行程：12 x 12x 12mm；线性移动；丝杠精度：100 Thread / Inch；移动精度：0.7 微米
尺寸：115mm长*100mm宽*112mm高；1000 克左右
特点：●亚微米工艺集成电路电路测试；
●线性，无后座力移动；
●可以配合同轴/三轴探针夹具使用；
●夹具可以30度范围倾仰；
●可以使用钨探针；
●可以配置为东/南/西/北四个方向的射频针座；
●射频测试能力；
●直流到40GHz~120GHz；
●可以配合使用校准片和校准软件；
●探头接口和线缆45度连接，无需L型转接头；
●探头可以拆卸维修；
●带射频测试线固定装置。
SS-40-T
电路/射频测试针座
规格：X-Y-Z方向行程：12 x 12x 12mm；线性移动；丝杠精度：40 Thread / Inch；移动精度：2 微米
尺寸：64mm长*47mm宽*66mm高；200 克左右
特点：●线性移动；
●I/O Pad 点测；
●电路点测；
●射频测试；
●较小的体积；
●可以配合同轴/三轴探针夹具使用；
SS-40
I/O Pad/Electro-Optics光电测试针座
规格：X-Y-Z方向行程：12 x 12x 12mm；线性移动；丝杠精度：40 Thread / Inch；移动精度：10 微米
尺寸：64mm长*47mm宽*55mm高；175 克左右
特点：●价格实惠；
●线性移动；
●I/O Pad 点测；
●光电器件点测；
●较小的体积；
●可以配合同轴/三轴探针夹具使用；
SS-700
亚微米电路/射频测试探针座
规格：X-Y-Z方向行程：8 x 8 x 8mm；线性移动；丝杠精度：700 Thread / Inch；移动精度：0.1 微米
尺寸：148mm长*120mm宽*140mm高；重 1500 克
特点：
●亚微米工艺集成电路电路测试；
●线性，无后座力移动；
●可以配合同轴/三轴探针夹具使用；
●夹具可以30度范围倾仰；
●可以使用钨探针；
●可以配置为东/南/西/北四个方向的射频针座；
●射频测试能力；
●直流到40GHz~120GHz；
●可以配合使用校准片和校准软件；
●探头接口和线缆45度连接，无需L型转接头；
●探头可以拆卸维修；
●带射频测试线固定装置
附件
- 三轴探针夹具
- 射频探头
- 同轴探针夹具
- 光纤探头
- 磁力底座，磁力翻转底座，真空底座
- 低电流/电容点测配件
- 电动针座升级
- 高压配件
